磁粉探傷儀探傷常用的有X射線探傷儀和同位素γ射線探傷儀，分別稱(chēng)為X射線探傷儀和γ射線探傷儀。當(dāng)這些射線通過(guò)一種物質(zhì)時(shí)，物質(zhì)的密度越大，輻射強(qiáng)度越低，也就是說(shuō)，射線通過(guò)物質(zhì)的強(qiáng)度越小。這時(shí)，如果用照相底片接收，底片的靈敏度很??；如果用儀器接收，得到的信號(hào)很弱。

因此，當(dāng)用輻射照射待測(cè)超聲波探傷儀的零部件時(shí)，如果內(nèi)部存在氣孔、夾渣等缺陷，則通過(guò)輻射缺陷路徑的材料密度要比通過(guò)輻射缺陷路徑的材料密度小得多。T缺陷，材料通過(guò)缺陷路徑的強(qiáng)度略有降低，即透射率較大，如果用負(fù)膜接收，光會(huì)被敏化。如果數(shù)量較大，垂直于射線方向的缺陷平面投影可以從底片上反射出來(lái)。如果使用其他接收器，垂直于射線方向的缺陷的平面投影和射線的傳輸也可以被儀器反射。

超聲頻率高，傳播線性強(qiáng)，在固體中傳播容易，遇到兩種不同介質(zhì)形成的界面容易反射，可用于探傷。通常，超聲波探頭與待探測(cè)工件表面接觸良好。該探頭能有效地將超聲波傳輸?shù)焦ぜ?，并能接收?lái)自（缺陷）界面的超聲波反射。同時(shí)，它可以轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，然后傳送給儀器進(jìn)行超聲波探傷儀的處理。缺陷的位置可以根據(jù)超聲波在介質(zhì)中傳播的速度（通常稱(chēng)為聲速）和時(shí)間來(lái)確定。

缺陷檢測(cè)儀有許多顯示缺陷的方法。是否可以用磁粉顯示。磁粉探傷儀顯示被稱(chēng)為磁粉檢測(cè)。由于其直觀的顯示、簡(jiǎn)單的操作和人們使用它的意愿，它是最常用的方法之一。沒(méi)有磁粉顯示，通常稱(chēng)為漏磁檢測(cè)。它通常使用感應(yīng)線圈、磁控管、霍爾元件來(lái)反映缺陷。探傷機(jī)比磁粉探傷更衛(wèi)生，但不如磁粉探傷機(jī)直觀。